簡要描述:Ux-720 精密鍍層分析儀X射線熒光光譜儀是經(jīng)過3年研發(fā),專門針對金屬合金、鋁型材、塑料等材料鍍層分析、達克羅涂覆層分析的普及機型,三重射線防護系統(tǒng);人性化操作界面的VisualFp基本參數(shù)法分析軟件,可盲測(即:無需標準樣品標定),即可對客戶樣品鍍層膜厚測試、基材成分分析,降低客戶購買標準樣品(尤其是特殊樣品)成本。精心設計的開放式工作曲線功能,特別適用于工藝復雜材料的工
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熒光光譜儀性能優(yōu)勢
1.VisualFp基本參數(shù)法分析軟件,可不用標準樣品標定,即對樣品鍍層膜厚進行精準測試
2.除可對金屬鍍層測試外,還可對合金鍍層、鋁合金鍍層、玻璃鍍層、塑料鍍層進行精確測量,開創(chuàng)了XRF對鍍層測厚的全面技術
3.軟件可根據(jù)樣品材質、形狀和大小自動設定光管功率,既能延長光管使用壽命又能充分發(fā)揮探測器性能,大幅提高測量精度
4.業(yè)內提供開放式工作曲線標定平臺,可為每家用戶量身定做的鍍層分析工作曲線
5.三重射線防護(軟件、硬件、迷宮設計),確保操作人員人身安全與意外操作帶來的輻射傷害
6.儀器外部對樣品微調設計,降低及防止樣品放置好后關閉樣品蓋產生振動而使測試位置發(fā)生變化導致的測試不準確性
7.可根據(jù)用戶要求自行定制測試報告輸出格式(Excel、PDF等),符合工廠多種統(tǒng)計及格式要求
8.業(yè)內一家對達克羅涂覆工藝厚度分析的軟件方法,*取代金相顯微鏡技術在該行業(yè)的應用
9.軟件對多次測試結果進行統(tǒng)計分析功能
10.業(yè)內一家既可以測試鍍層厚度,又可以同時分析基材及鍍層成分的XRF
熒光光譜儀儀器技術指標
1、分析元素范圍:S-U中的元素
2、檢測成分范圍:1ppm-99.99%
3、低檢測厚度:0.003um
4、檢測厚度上限,20 - 50um(視材料而定)
5、檢測鍍層層數(shù):6層(視材料而定)
6、測量時間 :30-150s ( 系統(tǒng)自動調整 )
7、分辨率:145±5eV
8、準直器:Φ0.5mm、Φ1mm、Φ2mm、Φ4mm自動切換
9、濾光片:5種濾光片自動切換
10、CCD觀察:260萬像素高清CCD
11、樣品微動范圍:XY15mm
12、儀器尺寸:680(W)x400(D)x390(H)mm
13、樣品腔尺寸:300*360*100mm;
14、輸入電源:AC220V~240V,50/60Hz
15、額定功率:350W
16、重量:約45Kg
17、工作環(huán)境溫度:溫度15—30℃
18、工作環(huán)境相對濕度:≤85%(不結露)
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